硅片局部平整度非接触式标准测试方法

Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning

GB/T 19922-2005推荐性国家标准

现行

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GB/T 19922-2005 相似标准 第6页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
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JR/T 0025.12-2010中国金融集成电路(IC)卡规范 第12部分:非接触式IC卡支付规范废止2010-04-302010-04-30
JR/T 0025.11-2010中国金融集成电路(IC)卡规范 第11部分:非接触式IC卡通讯规范废止2010-04-302010-04-30
JR/T 0025.8-2005中国金融集成电路(IC)卡规范 第8部分:与应用无关的非接触式规范废止2005-03-102005-03-10
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