涂层自然气候曝露试验方法

Methods of exposure to natural weathering of coating

GB/T 9276-1996推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-02-13
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GB/T 9276-1996 相似标准 第5页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/GDEIIA 9-2020印制电路板南海诱发气候环境试验与评价方法现行2021-09-242021-09-25
SJ/T 11379-2008等离子体显示器件 第4部分:气候和机械试验方法现行2008-03-102008-03-10
GB/T 16259-2026建筑材料人工气候老化试验方法即将实施2026-05-252026-12-01
YY/T 0681.16-2019无菌医疗器械包装试验方法 第16部分:包装系统气候应变能力试验现行2019-05-312020-06-01
DB44/T 1451-2014建筑材料和构件动态热湿传递性质试验方法 热湿气候风洞法废止2014-11-102015-02-10
GB/T 5137.3-2002汽车安全玻璃试验方法 第3部分:耐辐照高温潮湿燃烧和耐模拟气候试验废止2002-12-202003-05-01
GB/T 18029.9-2008轮椅车 第9部分:电动轮椅车气候试验方法废止2008-09-192009-03-01
T/CVIA 136-2024激光电视气候环境试验方法​现行2024-05-202024-05-20
GB/T 4937.25-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.24-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿 无偏置强加速应力试验即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.29-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.33-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.36-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:稳态加速度即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.38-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.44-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.37-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分:采用加速度计的板级跌落试验方法即将实施2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.8-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封即将实施2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.39-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分:半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量即将实施2025-12-312026-07-01