| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 31092-2022 | 蓝宝石单晶晶棒 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 41153-2021 | 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 39137-2020 | 难熔金属单晶晶向测定方法 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| GB/T 26044-2010 | 信号传输用单晶圆铜线及其线坯 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 22452-2025 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-08-01 |
| GB/T 9532-2012 | 压电单晶材料型号命名方法 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 24574-2009 | 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 4326-2006 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 42676-2023 | 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 30118-2013 | 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| GB/T 20230-2022 | 磷化铟单晶 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 43897-2024 | 铸造高温合金 母合金 单晶 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 29420-2012 | 掺钕钒酸盐激光单晶元件 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-08-01 |
| DB51/T 3330-2025 | 单晶硅单位产品能源消耗限额 | 现行 | 2025-12-23 | 2025-12-31 |
| JB/T 13942-2020 | 超硬磨料 静压法合成工业用大单晶金刚石 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |