| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 15394-1994 | 多探针测试台通用技术条件 | 现行 | 1994-12-28 | 1995-08-01 |
| GB/T 15394-2026 | 多探针测试台通用技术条件 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| JB/T 8613-1997 | 发动机综合测试台技术条件 | 废止 | 1997-08-29 | 1997-10-01 |
| T/CAAMTB 135-2023 | 电动汽车用驱动电机系统下线测试台架技术要求与试验方法 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-07-01 |
| T/ZZB 3596-2023 | 新能源汽车驱动电机系统性能测试台 | 现行 | 2023-12-10 | 2023-12-15 |
| GB/T 25447-2010 | 质子交换膜燃料电池测试台及活化台 | 废止 | 2010-11-10 | 2011-05-01 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| SJ/T 10315-1992 | 四探针探头通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| GB/T 45528-2025 | 纳米技术 纳米多孔材料孔径及孔径分布测试 荧光探针法 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-11-01 |
| SN/T 5315-2021 | 光催化自洁陶瓷性能测试方法 荧光探针法 | 现行 | 2021-11-22 | 2022-06-01 |
| YS/T 602-2017 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 现行 | 2017-07-07 | 2018-01-01 |
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 | 现行 | 2022-10-23 | 2022-11-23 |
| DB51/T 3207-2024 | 集成电路测试用微波探针应用规范 | 现行 | 2024-12-03 | 2024-12-29 |
| T/ZZB 3888-2024 | 半导体芯片测试用探针头 | 现行 | 2024-12-06 | 2024-12-06 |
| T/BEA 43002-2023 | 朗缪尔单探针等离子体测试仪校准规范 | 现行 | 2023-02-20 | 2023-04-19 |
| T/CASAS 019-2021 | 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法 | 现行 | 2021-11-01 | 2021-12-01 |
| YS/T 602-2007 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 废止 | 2007-11-14 | 2008-05-01 |
| T/ZGIA 001-2019 | 石墨烯测试方法 粉体电导率的测定 四探针法 | 现行 | 2019-12-16 | 2019-12-30 |