| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 7895-2008 | 人造光学石英晶体 | 现行 | 2008-06-30 | 2009-04-01 |
| GB/T 1557-2018 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 22319.8-2008 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 | 废止 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| NB/T 10453-2020 | 晶体硅太阳电池组件用封框胶带 | 现行 | 2020-10-23 | 2021-02-01 |
| GB/T 21039.1-2007 | 半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 | 现行 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |
| GB/T 6352-1998 | 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |
| GB/T 1554-2009 | 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 14144-2009 | 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 39867-2021 | 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 29332-2012 | 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 3352-2012 | 人造石英晶体 规范与使用指南 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 42676-2023 | 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 15449-1995 | 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范 | 现行 | 1995-01-05 | 1995-08-01 |
| GB/T 8756-2018 | 锗晶体缺陷图谱 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 12273.501-2012 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 12274.1-2012 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分：总规范 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| NB/T 42104.4-2024 | 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第4部分：高原气候条件 | 现行 | 2024-12-25 | 2025-06-25 |
| GB/T 36289.1-2018 | 晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜 第1部分：聚酯薄膜 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |