| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| JY/T 0587-2020 | 多晶体X射线衍射方法通则 | 现行 | 2020-12-01 | 找相似 |
| JY/T 0588-2020 | 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则 | 现行 | 2020-12-01 | 找相似 |
| JJG 629-2014 | 多晶X射线衍射仪 | 现行 | 2014-12-15 | 找相似 |
| GB/T 37051-2018 | 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 | 现行 | 2019-04-01 | 找相似 |
| GB/T 34612-2017 | 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| GB/T 46514-2025 | 锂离子电池正极材料检测方法 晶体结构的测定 X射线衍射法 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
| GB/T 20724-2021 | 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 37983-2019 | 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法 | 现行 | 2020-03-01 | 找相似 |
| GB/T 20724-2006 | 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 废止 | 2007-08-01 | 找相似 |
| QB/T 1174-2002 | 多晶体冰糖 | 废止 | 2002-12-01 | 找相似 |
| QB 1174-1991 | 多晶体冰糖 | 废止 | 1992-02-01 | 找相似 |
| GB/T 42676-2023 | 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 19501-2013 | 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 | 现行 | 2014-03-01 | 找相似 |
| SN/T 3011.1-2020 | X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相 第1部分：通则 | 现行 | 2021-03-01 | 找相似 |
| SN/T 3011.1-2011 | X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相 第1部分：通则 | 废止 | 2012-04-01 | 找相似 |
| GB/T 4060-2018 | 硅多晶真空区熔基硼检验方法 | 现行 | 2019-06-01 | 找相似 |
| DB65/T 3486-2013 | 太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法 | 废止 | 2013-12-01 | 找相似 |
| DB65/T 3485-2013 | 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法 | 废止 | 2013-12-01 | 找相似 |