General guide of environmental scanning electron microscopy for biological effects on topography induced by nanoparticles
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CEEIA 342-2018 | 风力发电机组防孤岛效应测试规程 | 现行 | 2018-12-29 | 2018-12-29 |
| EJ/T 1079-1998 | 轻水堆隔间淹没效应防护准则 | 现行 | 1998-08-25 | 1998-11-01 |
| EJ/T 903.8-1994 | 闪烁体性能测量方法 温度效应 | 现行 | 1994-10-24 | 1995-01-01 |
| ZBW 04019-1989 | 纺织品毛细效应试验方法 | 现行 | 1989-07-13 | 1989-10-01 |
| T/CEEIA 342-2018 | 风力发电机组防孤岛效应测试规程 | 现行 | 2018-12-29 | 2018-12-29 |
| T/CEC 228-2019 | 配电变压器绕组材质的热电效应法检测导则 | 现行 | 2019-04-24 | 2019-07-01 |
| T/GAC 2-2019 | 钻石切工八心八箭效应 分级与检验 | 现行 | 2019-07-10 | 2019-08-06 |
| T/SZS 4052-2022 | 心箭效应钻石 | 现行 | 2022-12-08 | 2022-12-09 |
| GB/T 45716.1-2026 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 第1部分：MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| SJ/T 12032-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12067-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管门类规范 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12068-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48164.1-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| T/CSF 0154-2026 | 陆地生态系统碳汇效应测算与评价 技术规程 | 2026-07-28 | 2026-07-28 | |
| GB/T 33210-2025 | 无损检测 基于逆磁致伸缩效应的残余应力检测方法（外文版EN） | 现行 | 2025-08-29 | |
| DB53/T 949-2019 | 烟用生物质颗粒燃料烘烤操作管理规程 | 废止 | 2019-09-23 | 2019-12-23 |
| DB5305/T 67-2021 | 生物质颗粒燃料生产技术规程 | 废止 | 2021-10-30 | 2021-12-01 |