| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 30868-2014 | 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| SJ/T 11499-2015 | 碳化硅单晶电学性能的测试方法 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| DB15/T 2234-2021 | 直拉单晶硅单位产品能源消耗限额 | 废止 | 2021-07-23 | 2021-08-23 |
| GB/T 12965-2005 | 硅单晶切割片和研磨片 | 废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 24581-2009 | 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 25076-2010 | 太阳电池用硅单晶 | 废止 | 2010-09-02 | 2011-04-01 |
| GB/T 26071-2010 | 太阳能电池用硅单晶切割片 | 废止 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 35306-2017 | 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 废止 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| DB12/T 101.251-2003 | 工业产品取水定额 硅单晶片 | 废止 | 2003-09-03 | 2003-09-03 |
| DB36/ 771-2013 | 直拉单晶硅单位产品能源消耗限额 | 废止 | 2013-12-25 | 2014-02-01 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| SJ/T 11976-2025 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT）用中子嬗变掺杂区熔硅单晶 | 现行 | 2025-05-09 | 2025-08-01 |
| DB31/ 792-2014 | 硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 | 有更新版 | 2014-04-15 | 2014-08-01 |
| T/ZSA 72-2019 | 碳化硅单晶 | 现行 | 2019-12-31 | 2020-03-01 |
| ZJM-005-4643-2022 | TVS用硅单晶研磨片 | 现行 | 2022-08-30 | 2022-08-30 |
| GB/T 13843-1992 | 蓝宝石单晶抛光衬底片 | 废止 | 1992-12-28 | 1993-08-01 |