Thickness measurements for ultrathin silicon oxide layers on silicon wafers X-ray photoelectron spectroscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 21236-2007 | 电炉回收二氧化硅微粉 | 现行 | 2007-10-25 | 2008-04-01 |
| DL/T 1151.10-2012 | 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法 第10部分：二氧化硅的测定 | 现行 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| DL/T 258-2012 | 煤中游离二氧化硅的测定方法 | 现行 | 2012-04-06 | 2012-07-01 |
| JB/T 7948.1-2017 | 焊剂化学分析方法 第1部分：二氧化硅含量测定 | 现行 | 2017-11-07 | 2018-04-01 |
| JB/T 9220.2-1999 | 铸造化铁炉酸性炉渣化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定二氧化硅量 | 现行 | 1999-06-24 | 2000-01-01 |
| JB/T 10376-2013 | 碳化硅特种制品 氧化硅结合碳化硅板 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| GB/T 20020-2025 | 气相二氧化硅 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/Z 43998-2024 | 纳米技术 混合粉尘制造环境空气中纳米级炭黑和无定形二氧化硅浓度的测量方法 | 现行 | 2024-04-25 | |
| YS/T 575.3-2007 | 铝土矿石化学分析方法 第3部分：二氧化硅含量的测定 钼蓝光度法 | 现行 | 2007-11-14 | 2008-05-01 |
| YS/T 820.23-2012 | 红土镍矿化学分析方法 第23部分: 钴、铁、镍、磷、氧化铝、氧化钙、氧化铬、氧化镁、氧化锰、二氧化硅和二氧化钛量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| YS/T 509.3-2008 | 锂辉石、锂云母精矿化学分析方法 二氧化硅量的测定 重量-钼蓝分光光度法 | 现行 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| YS/T 514.4-2009 | 高钛渣、金红石化学分析方法 第4部分：二氧化硅量的测定 称量法、钼蓝分光光度法 | 现行 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |
| YS/T 358.3-2011 | 钽铁、铌铁精矿化学分析方法 第3部分：二氧化硅量的测定 硅钼蓝分光光度法和重量法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YS/T 629.1-2007 | 高纯氧化铝化学分析方法 二氧化硅含量的测定 正戊醇萃取钼蓝光度法 | 现行 | 2007-04-13 | 2007-10-01 |
| YS/T 581.6-2006 | 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第6部分：钼蓝分光光度法测定二氧化硅含量 | 废止 | 2006-03-07 | 2006-08-01 |
| YS/T 360.5-2011 | 钛铁矿精矿化学分析方法 第5部分：二氧化硅量的测定 硅钼蓝分光光度法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YS/T 461.5-2013 | 混合铅锌精矿化学分析方法 第5部分：二氧化硅量的测定 钼蓝分光光度法 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 534.3-2007 | 氢氧化铝化学分析方法 第3部分：二氧化硅含量的测定 钼蓝光度法 | 现行 | 2007-11-14 | 2008-05-01 |