Thickness measurements for ultrathin silicon oxide layers on silicon wafers X-ray photoelectron spectroscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 349.4-2010 | 硫化钴精矿化学分析方法 第4部分：二氧化硅量的测定 氟硅酸钾容量法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| YS/T 555.2-2009 | 钼精矿化学分析方法 二氧化硅量的测定 硅钼蓝分光光度法和重量法 | 现行 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |
| YS/T 820.8-2012 | 红土镍矿化学分析方法 第8部分：二氧化硅量的测定 氟硅酸钾滴定法 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| YS/T 575.2-2007 | 铝土矿石化学分析方法 第2部分：二氧化硅含量的测定 重量-钼蓝光度法 | 现行 | 2007-11-14 | 2008-05-01 |
| YB 4009-1991 | 优质镁砂化学分析方法钼光度法测定二氧化硅量 | 现行 | 1991-05-04 | 1992-01-01 |
| YB/T 191.3-2001 | 铬矿石化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定二氧化硅含量 | 现行 | 2001-07-09 | 2002-01-01 |
| YB/T 4909.1-2021 | 炼钢铁水预处理用钙基脱硫剂分析方法 第1部分：二氧化硅含量的测定 高氯酸脱水重量法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-07-01 |
| YB/T 4724-2018 | 钢渣 二氧化硅含量的测定 高氯酸脱水重量-硅钼蓝光度法 | 现行 | 2018-12-21 | 2019-07-01 |
| YB/T 4850-2020 | 直接还原铁 全铁、磷、硫、二氧化硅、三氧化二铝、氧化钙和氧化镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| YB/T 547.2-2014 | 钒渣 二氧化硅含量的测定 高氯酸脱水重量法 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-10-01 |
| YB/T 115-1997 | 不定形耐火材料用二氧化硅微粉 | 现行 | 1997-08-04 | 1997-12-01 |
| YB/T 4225-2010 | 石英砂中二氧化硅含量测定方法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| HG 2791-1996 | 食品添加剂 二氧化硅 | 现行 | 1996-04-10 | 1997-01-01 |
| HG/T 6044-2022 | 取水定额 沉淀水合二氧化硅 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-04-01 |
| HG/T 3071-2008 | 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅折射率的测定 | 现行 | 2008-04-23 | 2008-10-01 |
| HG/T 3068-2008 | 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅总铜含量的测定 | 现行 | 2008-04-23 | 2008-10-01 |
| HG/T 2404-2020 | 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅在丁苯橡胶中的鉴定 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| HG/T 3070-2008 | 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅总铁含量的测定 | 现行 | 2008-04-23 | 2008-10-01 |