Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YB/T 5360-2020 | 金属材料 定量极图的测定 X射线衍射法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| YB/T 4677-2018 | 钢中织构的测定 电子背散射衍射（EBSD）法 | 现行 | 2018-10-22 | 2019-04-01 |
| YB/T 4183-2009 | 冶炼渣粉颗粒粒度分布测定 激光衍射法 | 现行 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |
| HG/T 5705-2020 | 加氢催化剂中二氧化钛相含量的测定 X射线衍射法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| GB/T 37054-2018 | 纳米技术 纳米二氧化钛中锐钛矿型与金红石型比率测定 X射线衍射法 | 现行 | 2018-12-28 | 2018-12-28 |
| GB/T 30793-2014 | X-射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛型与金红石型比率 | 现行 | 2014-07-08 | 2014-12-01 |
| GB/T 46514-2025 | 锂离子电池正极材料检测方法 晶体结构的测定 X射线衍射法 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| SH/T 0625-1995 | 硅铝催化剂中γ-Al2O3含量测定法（X射线衍射法） | 现行 | 1995-08-14 | 1995-12-01 |
| GB/T 38532-2020 | 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定 | 现行 | 2020-03-06 | 2021-02-01 |
| SL 536-2011 | X射线衍射应力测定装置校验方法 | 现行 | 2011-07-12 | 2011-10-12 |
| GB/T 45597-2025 | 金属材料 残余应力测定 短波长X射线衍射法 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-11-01 |
| GB/T 36165-2018 | 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射（EBSD）法 | 现行 | 2018-05-14 | 2019-02-01 |
| GB/T 20724-2021 | 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| T/GDYS 002-2025 | 镁合金晶粒尺寸及织构的测定电子背散射衍射（EBSD）法 | 现行 | 2025-05-20 | 2025-05-30 |
| T/CSTM 00922-2024 | 电力变压器用电工钢带（片）晶粒取向性测定 电子背散射衍射（EBSD）法 | 现行 | 2024-05-31 | 2024-08-31 |
| T/CASAS 014-2021 | 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法 | 现行 | 2021-11-01 | 2021-12-01 |
| YB/T 5338-2019 | 钢中奥氏体定量测定 X射线衍射仪法 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-07-01 |
| YS/T 1652-2023 | 锆及锆合金中织构的测定 电子背散射衍射法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |