Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
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| JB/T 11144-2011 | X射线衍射仪 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
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