Electrostatics—Part 5-3: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena—Properties and requirements classification for packing intended for electrostatic discharge sensitive devices
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| T/HNNMIA 1-2022 | 电子器件用无氧铜棒材 | 现行 | 2022-01-25 | —— |
| GB/T 7289-2017 | 电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型 | 现行 | 2018-05-01 | 相似 |
| SJ/T 10630-1995 | 电子元器件制造防静电技术要求 | 现行 | 1995-10-01 | 相似 |
| T/ESD 3005-2025 | 潮湿及静电敏感电子元器件用防静电包装组件通用技术规范 | 现行 | 2025-07-01 | —— |
| GB/T 35010.5-2018 | 半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求 | 现行 | 2018-08-01 | 相似 |
| GB/T 37946.4-2025 | 有机发光材料测试方法 第4部分：电学性能 | 即将实施 | 2026-05-01 | 相似 |
| QX/T 725-2024 | 大气电学计量实验室技术要求 | 现行 | 2024-12-01 | 相似 |
| GB/T 3102.5-1993 | 电学和磁学的量和单位 | 现行 | 1994-07-01 | 相似 |
| GB/T 44076-2024 | 纳米技术 碳纳米管电学特性测试方法 | 现行 | 2024-12-01 | 相似 |
| GB/T 37826-2019 | 航空电加温玻璃电学性能试验方法 | 现行 | 2020-07-01 | 相似 |
| GB/T 33657-2017 | 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 | 现行 | 2017-12-01 | 相似 |
| SJ/T 11628-2016 | 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法 | 现行 | 2016-09-01 | 相似 |
| JY/T 0366-2004 | 电学元件黑箱 | 现行 | 2005-01-23 | 相似 |
| SJ/T 11499-2015 | 碳化硅单晶电学性能的测试方法 | 废止 | 2015-10-01 | 相似 |
| DB34/T 3770-2020 | 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法 | 废止 | 2020-12-27 | —— |
| T/MBJX 0006-2021 | 直流高压发生装置电学参数测试方法 | 现行 | 2021-08-10 | —— |
| JJF 1023-1991 | 常用电学计量名词术语(试行) | 现行 | 1991-12-01 | 相似 |
| GB/T 4937.26-2023 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM） | 现行 | 2024-04-01 | 相似 |