太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法

SJ/T 11628-2016SJ电子

现行

标准状态

发布日期

2016-04-05

实施日期

2016-09-01

基础信息

标准号

SJ/T 11628-2016

批准发布部门

工业和信息化部

技术归口

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

制修订

制定

标准分类

中国标准分类号

H21

国际标准分类号

77.040

标准类别

方法标准

标准分类

电子

标准层级

行业标准

备案信息

备案号

54996-2016

备案日期

2016-06-29

起草单位

中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、浙江精功科技股份有限公司等

起草人

江波涛、贺东江、卫国军 等

SJ/T 11628-2016 相关专题

SJ/T 11628-2016 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
YS/T 26-2016硅片边缘轮廓检验方法现行2016-07-112017-01-01
T/CPIA 0022-2020光伏硅片制造业绿色工厂评价要求现行2020-03-102020-03-20
T/CPIA 0037-2022光伏晶体硅片规范现行2022-03-302022-04-15
T/CPIA 0057-2024光伏硅片多线切割机技术要求现行2024-03-102024-03-15
T/CPIA 0061-2024质量分级及“领跑者”评价要求 光伏硅片现行2024-03-102024-03-15
T/QGCML 2024-2023掺镓硅片技术生产管理办法现行2023-11-032023-11-24
GB/T 11073-2025硅片径向电阻率变化测量方法即将实施2025-10-312026-05-01
GB/T 39145-2020硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法现行2020-10-112021-09-01
GB/T 19444-2025硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法现行2025-06-302026-01-01
DB31/ 792-2020硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额有更新版2020-03-252020-06-01
GB/T 30860-2014太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法现行2014-07-242015-04-01
SJ/T 10627-1995通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法现行1995-04-221995-10-01
GB/T 42789-2023硅片表面光泽度的测试方法现行2023-08-062024-03-01
DB31/T 792-2026硅单晶棒及单晶硅片单位产品能源消耗限额现行2026-02-142026-06-01
GB/T 43315-2023硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法现行2023-11-272024-06-01
HG/T 5962-2021硅片切割废液处理处置方法现行2021-08-212022-02-01
JC/T 2066-2011太阳能电池硅片用石英玻璃扩散管现行2011-12-202012-07-01
JC/T 2065-2011太阳能电池硅片用石英舟现行2011-12-202012-07-01
YB/T 4397-2014切割硅片用电镀黄铜钢丝现行2014-05-062014-10-01
GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 32814-2016硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范现行2016-08-292017-03-01
GB/T 34479-2017硅片字母数字标志规范现行2017-10-142018-07-01
GB/T 26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法现行2018-12-282019-11-01
GB/T 6619-2009硅片弯曲度测试方法现行2009-10-302010-06-01
SJ/T 11377-2007数字电视接收设备条件接受接口规范 第2-2部分:通用传送接口(UTI)测试规范现行2007-12-052008-01-26