GaN on Si epitaxial wafers for HEMT power devices
即将实施
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10775-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 11113-1999 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| DB13/T 5696-2023 | 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法 | 废止 | 2023-05-06 | 2023-06-06 |
| GB/T 18311.31-2007 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-31部分：检查和测量 纤维光学光源耦合功率比测量 | 废止 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |
| GB/T 28511.1-2012 | 平面光波导集成光路器件 第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器 | 废止 | 2012-06-29 | 2012-10-01 |
| T/IAWBS 009-2019 | 功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| QB/T 8165-2025 | 房间空调器功率器件用热管散热装置 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| GB/T 18310.14-2025 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-14部分：试验 高光功率 | 现行 | 2025-10-31 | 2026-02-01 |
| GB/T 46985.3-2025 | 光伏发电系统用功率转换设备安全性 第3部分：与光伏部件连接的电子器件特定要求 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-04-01 |
| DB13/T 6235-2025 | GaN固态微波功率器件加速寿命评估一般要求 | 现行 | 2025-12-16 | 2026-01-16 |
| T/ZSA 47-2020 | 电动汽车用功率半导体器件可靠性试验方法 | 现行 | 2020-12-06 | 2020-12-07 |
| T/CASAS 011.1-2021 | 车规级半导体功率器件测试认证规范 | 现行 | 2021-11-01 | 2021-12-01 |
| GB/T 48108-2026 | 射频（RF）声表面波（SAW）及体声波（BAW）器件功率耐久性测试指南 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 14015-1992 | 硅-蓝宝石外延片 | 现行 | 1992-12-28 | 1993-08-01 |
| GB/T 44334-2024 | 埋层硅外延片 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 8758-2006 | 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 | 现行 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 24575-2009 | 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 30110-2013 | 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |