| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4956-2003 | 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 | 废止 | 2003-10-29 | 2004-05-01 |
| GB/T 40414-2021 | 浮筑地面用绝热制品厚度的测量 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| GB/T 7991.5-2014 | 搪玻璃层试验方法 第5部分：用电磁法测量厚度 | 现行 | 2014-12-05 | 2015-07-01 |
| DB65/T 4803-2024 | 冰川厚度测量技术规范 | 现行 | 2024-07-11 | 2024-09-10 |
| GB/T 33826-2017 | 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| GB/T 40128-2021 | 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 38518-2020 | 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法 | 现行 | 2020-03-06 | 2021-02-01 |
| GB/T 17722-1999 | 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | 废止 | 1999-04-11 | 1999-12-01 |
| GB/T 17722-2026 | 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47182-2026 | 微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| T/CSTM 00003-2019 | 二维材料厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2019-01-03 | 2019-02-01 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| YS/T 14-2015 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| EJ/T 1141-2002 | 铀三硅二-铝燃料板包壳厚度测量 相敏涡流法 | 现行 | 2002-11-20 | 2003-02-01 |
| JJF 1965-2022 | 锡膏厚度测量仪校准规范 | 现行 | 2022-04-29 | 2022-10-29 |
| SY/T 4107-2005 | 复合防腐涂层各层厚度破坏性测量方法 | 废止 | 2005-07-26 | 2005-11-01 |
| JB/T 8393-1996 | 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 | 废止 | 1996-04-16 | 1996-10-01 |
| SY/T 0066-1999 | 钢管防腐层厚度的无损测量方法（磁性法） | 废止 | 1999-05-17 | 1999-12-01 |