| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| YB/T 6166-2024 | 石墨烯薄膜方块电阻的测定 四探针法 | 现行 | 2024-10-01 | 相似 |
| GB/T 43682-2024 | 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 | 现行 | 2024-07-01 | 相似 |
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻的无损测试 四探针法 | 现行 | 2022-11-23 | 相似 |
| T/CPIA 0100-2024 | 光伏电池用掺杂层薄层方块电阻的测量方法 | 现行 | 2024-12-30 | —— |
| T/GDASE 0012-2020 | 石墨烯薄膜层数的测定 激光显微共焦拉曼光谱法 | 现行 | 2020-06-01 | —— |
| T/GDASE 0008-2020 | 石墨烯薄膜杨氏模量的测定 原子力显微镜法 | 现行 | 2020-06-01 | —— |
| T/GDASE 0010-2020 | 石墨烯薄膜电子迁移率的测定 | 现行 | 2020-06-01 | —— |
| T/GDASE 0012-2020 | 石墨烯薄膜层数的测定 激光显微共焦拉曼光谱法 | 现行 | 2020-06-01 | —— |
| T/GDASE 0010-2020 | 石墨烯薄膜电子迁移率的测定 | 现行 | 2020-06-01 | —— |
| T/GDASE 0008-2020 | 石墨烯薄膜杨氏模量的测定 原子力显微镜法 | 现行 | 2020-06-01 | —— |
| YB/T 6509-2026 | 石墨烯薄膜覆盖度测定 扫描电子显微镜法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 相似 |
| DB13/T 5026.3-2019 | 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法 | 废止 | 2019-08-01 | 相似 |
| DB32/T 3792-2020 | 石墨烯薄膜透光率测试 透光率仪法 | 现行 | 2020-06-25 | 相似 |
| DB32/T 3459-2018 | 石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法 | 现行 | 2018-11-30 | 相似 |
| T/CGIA 006.1-2024 | 石墨烯材料 特性参数与测试方法——第1部分：薄膜 | 现行 | 2024-06-30 | —— |
| T/CGIA 004.1-2022 | 石墨烯材料 绿色制备与温室气体排放核算指南 第1部分：石墨烯薄膜 | 现行 | 2022-03-31 | —— |
| T/CSTM 00591-2022 | 石墨烯-铜薄膜材料电导率测量 范德堡法 | 现行 | 2022-04-10 | —— |
| DB32/T 3329-2017 | 薄壳山核桃方块芽接技术规程 | 现行 | 2018-01-01 | 相似 |