| GB/T 12300-1990 | 功率晶体管安全工作区测试方法 | 现行 | 1990-03-15 | 1990-08-01 |
| GB/T 16468-1996 | 静电感应晶体管系列型谱 | 现行 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| GB/T 15449-1995 | 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范 | 现行 | 1995-01-05 | 1995-08-01 |
| JY/T 0006-2011 | 晶体管特性图示仪 | 现行 | 2013-07-11 | 2013-07-11 |
| GB/T 44004-2024 | 纳米技术 有机晶体管和材料表征试验方法 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| HG/T 4357-2012 | 薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用偏光片 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| GB/T 45716-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-09-01 |
| GB/T 45719-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-09-01 |
| SJ/T 11848-2022 | 半导体分立器件 3DG2484型NPN硅高频小功率晶体管详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11851-2022 | 半导体分立器件 S3DK5794型NPN硅小功率开关晶体管对管详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11850-2022 | 半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11849-2022 | 半导体分立器件3DG3500、3DG3501型NPN硅高频小功率 晶体管详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11765-2020 | 晶体管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11227-2000 | 电子元器件详细规范 3DA98型NPN硅高频大功率晶体管 | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10051-1991 | 3DA2688型晶体管详细规范 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 10067-1991 | BT40型可调单结晶体管详细规范 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 10050-1991 | 3DA1722型晶体管详细规范 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 10415-1993 | 晶体管热敏参数快速筛选试验方法 | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |