Test method for resistivity and hall coefficient indium antimonide single crystals
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 5594.5-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 31967.3-2025 | 稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分：电阻率的测试 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| JB/T 13537-2018 | 电磁屏蔽用导电粉体体积电阻率测试方法 | 现行 | 2018-07-04 | 2019-05-01 |
| GB/T 41232.3-2023 | 纳米制造 关键控制特性 纳米储能 第3部分：纳米材料接触电阻率和涂层电阻率的测试 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| YS/T 602-2017 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 现行 | 2017-07-07 | 2018-01-01 |
| GB/T 37977.23-2019 | 静电学 第2-3部分：防静电固体平面材料电阻和电阻率的测试方法 | 现行 | 2019-08-30 | 2020-03-01 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| GB/T 11446.4-2013 | 电子级水电阻率的测试方法 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-08-15 |
| GB/T 34520.6-2017 | 连续碳化硅纤维测试方法 第6部分：电阻率 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-02-01 |
| T/GRM 079-2023 | 岩石电阻率测试及各向异性表征方法 | 现行 | 2023-11-29 | 2023-11-29 |
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-15 | 2023-10-30 |
| T/CASAS 019-2021 | 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法 | 现行 | 2021-11-01 | 2021-12-01 |
| NB/T 51033-2015 | 煤层开采覆岩破坏动态视电阻率测试方法 | 现行 | 2015-04-02 | 2015-09-01 |
| SJ/T 11627-2016 | 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| JJF 2230-2025 | 混凝土电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2025-03-27 | 2025-09-27 |
| YS/T 602-2007 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 废止 | 2007-11-14 | 2008-05-01 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |