Photovoltaic devices—Part 3: Measurement principles for terrestrial photovoltaic(PV) solar devices with reference spectral irradiance data
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11845.2-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| GB/T 28511.2-2023 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-04-01 |
| GB/T 41997.3-2022 | 机械电气安全 基于视觉的电敏保护设备 第3部分：采用立体视觉保护器件特殊要求 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 41997.2-2022 | 机械电气安全 基于视觉的电敏保护设备 第2部分：采用参考模式的视觉保护器件特殊要求 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| YD/T 2000.1-2014 | 平面光波导集成光路器件 第1部分：基于平面光波导(PLC)的光功率分路器 | 现行 | 2014-10-14 | 2014-10-14 |
| YD/T 2000.2-2018 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG)技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 现行 | 2018-12-21 | 2019-04-01 |
| SJ/T 11845.1-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分：通用要求 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| YD/T 2000.2-2009 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 废止 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |
| YD/T 2000.1-2009 | 平面光波导集成光路器件 第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器 | 废止 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |
| GB/T 28511.2-2012 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 废止 | 2012-06-29 | 2012-10-01 |
| GB/T 28511.1-2012 | 平面光波导集成光路器件 第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器 | 废止 | 2012-06-29 | 2012-10-01 |
| YD/T 6708.2-2026 | 基于高斯调制相干态协议的量子密钥分发（QKD）用关键器件和模块 第2部分：相干探测器 | 现行 | 2026-03-11 | 2026-06-01 |
| YD/T 6708.1-2026 | 基于高斯调制相干态协议的量子密钥分发（QKD）用关键器件和模块 第1部分：光源 | 现行 | 2026-03-11 | 2026-06-01 |
| GB/T 20521.12-2026 | 半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| DB13/T 5696-2023 | 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法 | 废止 | 2023-05-06 | 2023-06-06 |
| GB/Z 107-2025 | 半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 48168-2026 | 半导体器件基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| SJ/T 1543-2020 | 电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |