Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 16427-1996 | 粉尘层电阻率测定方法 | 废止 | 1997-04-01 | 找相似 |
| GB/T 19289-2003 | 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 | 废止 | 2004-04-01 | 找相似 |
| GB/T 1410-2006 | 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 | 废止 | 2006-06-01 | 找相似 |
| GB/T 10581-2006 | 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法 | 废止 | 2006-06-01 | 找相似 |
| GB/T 3781.9-2006 | 乙炔炭黑 第9部分：电阻率的测定 | 废止 | 2007-01-01 | 找相似 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 24521-2009 | 焦炭电阻率测定方法 | 废止 | 2010-05-01 | 找相似 |
| GB/T 12476.9-2010 | 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分：试验方法 粉尘层电阻率的测定方法 | 废止 | 2011-08-01 | 找相似 |
| KA/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1999-04-01 | 找相似 |
| JC/T 3073-2026 | 混凝土电阻率测试方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| GB/T 1672-1988 | 液体增塑剂体积电阻率的测定 | 现行 | 1988-10-01 | 找相似 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1990-01-01 | 找相似 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-10-24 | —— |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/SBX 027-2019 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 | 现行 | 2020-02-01 | —— |
| YS/T 63.2-2023 | 铝用炭素材料检测方法 第2部分：室温电阻率的测定 | 现行 | 2023-11-01 | 找相似 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2005-03-21 | 找相似 |