| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2005-03-21 | 找相似 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-12-01 | 找相似 |
| T/CASAS 019-2021 | 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法 | 现行 | 2021-12-01 | —— |
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-10-01 | 找相似 |
| GB/T 39978-2021 | 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率四探针法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-10-24 | —— |
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| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-10-24 | —— |
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 | 现行 | 2022-11-23 | 找相似 |
| GB/T 14141-2009 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
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| YS/T 602-2017 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 现行 | 2018-01-01 | 找相似 |
| YS/T 602-2007 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 废止 | 2008-05-01 | 找相似 |
| DL／T 846.14-2023 | 高电压测试设备通用技术条件 第14部分：绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪 | 现行 | 2023-11-26 | 找相似 |
| JJF 2230-2025 | 混凝土电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2025-09-27 | 找相似 |