| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| JJF 2230-2025 | 混凝土电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2025-09-27 | 相似 |
| DL／T 846.14-2023 | 高电压测试设备通用技术条件 第14部分：绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪 | 现行 | 2023-11-26 | 相似 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2005-03-21 | 相似 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-05-28 | 相似 |
| JC/T 3073-2026 | 混凝土电阻率测试方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 相似 |
| GB/T 15662-1995 | 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法 | 现行 | 1996-04-01 | 相似 |
| GB/T 4192-1984 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 现行 | 1984-11-01 | 相似 |
| GB/T 6146-2010 | 精密电阻合金电阻率测试方法 | 现行 | 2011-05-01 | 相似 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2023-04-01 | 相似 |
| GB/T 5594.5-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 | 现行 | 1986-12-01 | 相似 |
| GB/T 31967.3-2025 | 稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分：电阻率的测试 | 现行 | 2026-01-01 | 相似 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2024-03-01 | 相似 |
| JB/T 13537-2018 | 电磁屏蔽用导电粉体体积电阻率测试方法 | 现行 | 2019-05-01 | 相似 |
| GB/T 41232.3-2023 | 纳米制造 关键控制特性 纳米储能 第3部分：纳米材料接触电阻率和涂层电阻率的测试 | 现行 | 2023-12-01 | 相似 |
| YS/T 602-2017 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 现行 | 2018-01-01 | 相似 |
| GB/T 37977.23-2019 | 静电学 第2-3部分：防静电固体平面材料电阻和电阻率的测试方法 | 现行 | 2020-03-01 | 相似 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-12-01 | 相似 |
| GB/T 11446.4-2013 | 电子级水电阻率的测试方法 | 现行 | 2014-08-15 | 相似 |