用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法

Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes

GB/T 14863-2013推荐性国家标准

废止

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更新时间 2026-10-25
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GB/T 39771.1-2021半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法现行2021-10-01找相似