Semiconductordevices--Discrete devices--Part 3-2:Signal (including switching) and regulator diodes--Blank detail specification for voltage-regulator diodes and voltage-reference diodes (excluding temperature-compensated precision reference diodes)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 6571-1995 | 半导体器件分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 | 现行 | 1996-04-01 | 相似 |
| GB/T 6588-2000 | 半导体器件分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范 | 现行 | 2001-10-01 | 相似 |
| GB/T 6589-2002 | 半导体器件分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管) 空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 相似 |
| GB/T 4023.3-2026 | 半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管 | 即将实施 | 2026-11-01 | 相似 |
| GB/T 4586-1994 | 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 | 现行 | 1995-08-01 | 相似 |
| GB/T 15651-1995 | 半导体器件分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 | 现行 | 1996-04-01 | 相似 |
| GB/T 13151-2005 | 半导体器件分立器件 第6部分:晶闸管 第3篇 电流大于 100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 相似 |
| GB/T 21039.1-2007 | 半导体器件分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 | 现行 | 2007-11-01 | 相似 |
| GB/T 20516-2006 | 半导体器件分立器件 第4部分：微波器件 | 现行 | 2007-02-01 | 相似 |
| GB/T 4589.1-2006 | 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 | 现行 | 2007-02-01 | 相似 |
| GB/T 15651.2-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 | 现行 | 2004-08-01 | 相似 |
| GB/T 15651.3-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 | 现行 | 2004-08-01 | 相似 |
| GB/T 6352-1998 | 半导体器件分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1999-06-01 | 相似 |
| GB/T 15651.4-2017 | 半导体器件分立器件 第5-4部分:光电子器件半导体激光器 | 现行 | 2017-12-01 | 相似 |
| GB/T 29332-2012 | 半导体器件分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) | 现行 | 2013-06-01 | 相似 |
| GB/T 4587-2023 | 半导体器件分立器件 第7部分：双极型晶体管 | 现行 | 2024-04-01 | 相似 |
| GB/T 7576-1998 | 半导体器件分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范 | 现行 | 1999-06-01 | 相似 |
| GB/T 6219-1998 | 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1 GHz、5 W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范 | 现行 | 1999-06-01 | 相似 |