| GB/T 39427-2020 | 无损检测 工业Ir192伽玛射线源尺寸测定方法 | 现行 | 2021-06-01 | 找相似 |
| WS 523-2026 | 伽玛照相机、单光子发射断层成像设备（SPECT）质量控制检测标准 | 即将实施 | 2027-07-01 | 找相似 |
| GB/T 18988.2-2025 | 放射性核素成像设备 性能和试验规则 第2部分：平面、全身、断层成像伽玛照相机 | 即将实施 | 2027-07-01 | 找相似 |
| SY/T 6603-2004 | 地面岩心能谱测定仪 | 现行 | 2004-11-01 | 找相似 |
| SY/T 5252-2016 | 岩样的自然伽马能谱实验室测量规范 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| EJ/T 980-2018 | 车载γ能谱测量规范 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| EJ/T 1032-1996 | 航空枷玛能谱测量规范 | 废止 | 1997-02-01 | 找相似 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2011-08-01 | 找相似 |
| GB/T 11685-2003 | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 | 现行 | 2004-01-01 | 找相似 |
| JB/T 11602.3-2013 | 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第3部分：能谱检测 | 现行 | 2014-07-01 | 找相似 |
| GB/T 41105.3-2021 | 无损检测 X射线管电压的测量和评价 第3部分：能谱法 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 47076-2026 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| T/CSTM 01199-2024 | 多层金属薄膜 层结构测量分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-04-05 | —— |
| EJ/T 1204.3-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分：忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量 | 现行 | 2007-05-01 | 找相似 |
| GB/Z 129-2026 | 表面化学分析 电子能谱 纳米颗粒包覆层厚度和组成的测量 | 现行 | —— | 找相似 |
| GB/T 33502-2017 | 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2018-01-01 | 找相似 |
| GB/T 32998-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求 | 现行 | 2017-09-01 | 找相似 |
| GB/T 32565-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2017-01-01 | 找相似 |