SY/T 5385-2007 相似标准 第8页

更新时间 2026-10-28
标准号 标准名称 状态 实施日期 相似标准
GB/T 5167-1985 烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定 废止 1986-02-01 找相似
GB/T 16427-1996 粉尘层电阻率测定方法 废止 1997-04-01 找相似
GB/T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 废止 2004-04-01 找相似
GB/T 1410-2006 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 废止 2006-06-01 找相似
GB/T 10581-2006 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法 废止 2006-06-01 找相似
GB/T 3781.9-2006 乙炔炭黑 第9部分:电阻率的测定 废止 2007-01-01 找相似
GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 废止 2010-06-01 找相似
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法 废止 2010-06-01 找相似
GB/T 24521-2009 焦炭电阻率测定方法 废止 2010-05-01 找相似
GB/T 12476.9-2010 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分:试验方法 粉尘层电阻率的测定方法 废止 2011-08-01 找相似
KA/T 781-1998 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 现行 1999-04-01 找相似
JC/T 3073-2026 混凝土电阻率测试方法 即将实施 2027-02-01 找相似
GB/T 1672-1988 液体增塑剂体积电阻率的测定 现行 1988-10-01 找相似
GB/T 11297.7-1989 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 现行 1990-01-01 找相似
T/CSTM 00252-2020 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 现行 2020-10-24 ——
T/IAWBS 011-2019 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 现行 2019-12-31 ——
T/IAWBS 013-2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 现行 2019-12-31 ——
T/SBX 027-2019 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 现行 2020-02-01 ——