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HG/T 6465-2026
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非金属化工设备 碳化硅换热部件 |
即将实施 |
2026-11-01 |
找相似 |
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SJ/T 12015-2025
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碳化硅颗粒铝合金基复合板 |
现行 |
2026-03-01 |
找相似 |
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SJ/T 12032-2025
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半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 |
现行 |
2026-03-01 |
找相似 |
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SJ/T 12067-2025
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半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管门类规范 |
现行 |
2026-07-01 |
找相似 |
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SJ/T 12068-2025
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半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 |
现行 |
2026-07-01 |
找相似 |
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SJ/T 12069-2025
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半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法 |
现行 |
2026-07-01 |
找相似 |
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SJ/T 12070-2025
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半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 |
现行 |
2026-07-01 |
找相似 |
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SJ/T 12071-2025
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半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范 |
现行 |
2026-07-01 |
找相似 |
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GB/T 48164.2-2026
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半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 |
即将实施 |
2027-03-01 |
找相似 |
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GB/T 48164.1-2026
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半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法 |
即将实施 |
2027-03-01 |
找相似 |
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JB/T 7775.1-2008
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铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定铜量 |
现行 |
2008-09-01 |
找相似 |
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JB/T 7778.1-2008
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银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分：硫氰酸盐容量法测定银量 |
现行 |
2008-07-01 |
找相似 |
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JB/T 7778.4-2008
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银碳化钨电触头材料化学分析方法 第4部分：酸分离-气体容量法测定游离碳量 |
现行 |
2008-07-01 |
找相似 |
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JB/T 7778.2-2008
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银碳化钨电触头材料化学分析方法 第2部分：丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
现行 |
2008-07-01 |
找相似 |
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JB/T 7778.3-2008
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银碳化钨电触头材料化学分析方法 第3部分：气体容量法测定总碳量 |
现行 |
2008-07-01 |
找相似 |
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JB/T 7775.2-2008
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铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第2部分：气体容量法测定碳量 |
现行 |
2008-09-01 |
找相似 |
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YS/T 423.5-2000
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核极碳化硼粉末化学分析方法 氧量的测定 |
废止 |
2000-10-01 |
找相似 |
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YS/T 423.4-2000
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核极碳化硼粉末化学分析方法 铁量的测定 |
废止 |
2000-10-01 |
找相似 |