| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SY/T 6974-2013 | 随钻电磁波电阻率测井仪 | 废止 | 2014-04-01 | 找相似 |
| YS/T 64-1993 | 铝电解用炭素制品电阻率测定方法 | 废止 | 1994-04-01 | 找相似 |
| JB/T 8133.2-1995 | 电碳制品物理化学性能试验方法电阻率 | 废止 | 1996-04-14 | 找相似 |
| JB/T 8133.2-1999 | 电碳制品物理化学性能试验方法电阻率 | 废止 | 2000-01-01 | 找相似 |
| JB/T 9437-1999 | 静电复印干式显影剂载体电阻率试验方法 | 废止 | 2000-01-01 | 找相似 |
| DB13/T 5537-2022 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 [河北省] | 废止 | 2022-03-31 | 找相似 |
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| GB/T 5167-1985 | 烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定 | 废止 | 1986-02-01 | 找相似 |
| GB/T 16427-1996 | 粉尘层电阻率测定方法 | 废止 | 1997-04-01 | 找相似 |
| GB/T 1410-2006 | 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 | 废止 | 2006-06-01 | 找相似 |
| GB/T 10581-2006 | 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法 | 废止 | 2006-06-01 | 找相似 |
| GB/T 3781.9-2006 | 乙炔炭黑 第9部分：电阻率的测定 | 废止 | 2007-01-01 | 找相似 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 24521-2009 | 焦炭电阻率测定方法 | 废止 | 2010-05-01 | 找相似 |
| GB/T 12476.9-2010 | 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分：试验方法 粉尘层电阻率的测定方法 | 废止 | 2011-08-01 | 找相似 |
| KA/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1999-04-01 | 找相似 |
| JC/T 3073-2026 | 混凝土电阻率测试方法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |