| GB/T 4023.3-2026 | 半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管 | 即将实施 | 2026-11-01 | 找相似 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12071-2025 | 半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| GB/T 43787-2024 | 曲面有机发光二极管（OLED）光源光学性能测试方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 20871.61-2024 | 有机发光二极管显示器件 第6-1部分：光学和光电参数测试方法 | 现行 | 2024-08-01 | 找相似 |
| GB/T 20871.63-2021 | 有机发光二极管显示器件 第6-3部分：图像质量测试方法 | 现行 | 2022-06-01 | 找相似 |
| GB/T 20871.62-2025 | 有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法 视觉质量和亮室性能 | 现行 | 2025-12-01 | 找相似 |
| GB/T 38621-2020 | 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 | 现行 | 2020-11-01 | 找相似 |
| T/CSA 048-2019 | 普通照明用发光二极管变电流/温度 光电特性测试方法 | 现行 | 2019-12-30 | —— |
| T/CSA 047-2019 | 发光二极管热阻抗测试方法 | 现行 | 2019-12-30 | —— |
| SJ/T 11471-2014 | 发光二极管外延片测试方法 | 现行 | 2015-04-01 | 找相似 |
| SJ/T 11461.6.2-2016 | 有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法-视觉质量 | 现行 | 2017-01-01 | 找相似 |
| GB/T 37945-2019 | 有机发光二极管显示器用材料 玻璃化转变温度测试方法 差热法 | 废止 | 2019-12-01 | 找相似 |
| GB/T 37946-2019 | 有机发光二极管显示器用材料热稳定性的测试方法 | 废止 | 2019-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 11461.5.3-2016 | 有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法 | 废止 | 2016-06-01 | 找相似 |
| JB/T 10875-2008 | 发光二极管光学性能测试方法 | 废止 | 2008-11-01 | 找相似 |
| SJ/T 11281-2007 | 发光二极管（LED）显示屏测试方法 | 废止 | 2008-01-20 | 找相似 |