HG/T 4749-2014 相似标准 第14页

更新时间 2026-10-27
标准号 标准名称 状态 实施日期 相似标准
T/CECA 35-2019 金属氧化物半导体气体传感器 现行 2020-01-28 ——
T/CECA 27-2017 有可靠性指标的金属氧化物压敏电阻器总规范 现行 2019-05-11 ——
T/ZZB 0790-2018 动车组用交流无间隙金属氧化物避雷器 现行 2018-12-31 ——
T/ACREI CREIS54002-2018 稀土产品成分分析质量控制技术规范—第2部分·单一稀土金属及其氧化物成分分析 现行 2017-04-24 ——
T/CSEE 0001-2015 1000KV交流电线路用带串联间隙复合外套金属氧化物避雷器技术规范 现行 2016-03-01 ——
JB/T 50081-1996 合金内氧化法银金属氧化物电触头 产品质量分等 现行 1997-01-01 找相似
JB/T 8444-2014 粉末冶金法银金属氧化物电触头技术条件 现行 2016-01-01 找相似
JB/T 10492-2025 金属氧化物避雷器用监测装置 现行 2025-11-01 找相似
GB/T 6462-2025 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法 即将实施 2026-05-01 找相似
GB/T 47073-2026 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 即将实施 2026-08-01 找相似
T/CECA 27-2017 有可靠性指标的金属氧化物压敏电阻器总规范 现行 2019-05-11 ——
T/CEC 221-2019 高梯度级低残压金属氧化物电阻片通用技术标准 现行 2019-07-01 ——
T/CECA 35-2019 金属氧化物半导体气体传感器 现行 2020-01-28 ——
T/CAB 0156-2022 智能家电用金属氧化物MEMS气体传感器 现行 2022-07-05 ——
GB/T 45716.1-2026 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 第1部分:MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验 即将实施 2026-11-01 找相似
SJ/T 12032-2025 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 现行 2026-03-01 找相似
SJ/T 12067-2025 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管门类规范 现行 2026-07-01 找相似
SJ/T 12068-2025 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 现行 2026-07-01 找相似