气候年景评估方法

Assessment method of annual climatic status

GB/T 33670-2026推荐性国家标准

即将实施

上传时间:2026-04-24
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GB/T 33670-2026 相似标准 第7页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 5137.3-2002汽车安全玻璃试验方法 第3部分:耐辐照高温潮湿燃烧和耐模拟气候试验废止2002-12-202003-05-01
GB/T 18029.9-2008轮椅车 第9部分:电动轮椅车气候试验方法废止2008-09-192009-03-01
DB36/T 593-2010基于3S技术的农业气候区划方法废止2010-08-272010-12-01
T/CVIA 136-2024激光电视气候环境试验方法​现行2024-05-202024-05-20
GB/T 4937.25-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.24-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿 无偏置强加速应力试验即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.29-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.33-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.36-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:稳态加速度即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.38-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.44-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法即将实施2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.37-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分:采用加速度计的板级跌落试验方法即将实施2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.8-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封即将实施2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.39-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分:半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量即将实施2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.40-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:采用应变仪的板级跌落试验方法即将实施2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.9-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性即将实施2026-02-272026-09-01
GB/T 4937.41-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法即将实施2026-02-272026-09-01
GB/T 4937.16-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND)即将实施2025-10-312026-05-01