Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates—Infrared reflectance method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 25451-2010 | 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-05-01 |
| GB/T 2951.11-2008 | 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第11部分：通用试验方法 厚度和外形尺寸测量 机械性能试验 | 现行 | 2008-06-26 | 2009-04-01 |
| GB/T 328.5-2007 | 建筑防水卷材试验方法 第5部分：高分子防水卷材 厚度、单位面积质量 | 现行 | 2007-03-26 | 2007-10-01 |
| GB/T 20018-2005 | 金属与非金属覆盖层 覆盖层厚度测量 β射线背散射法 | 现行 | 2005-10-12 | 2006-04-01 |
| GB/T 16921-2005 | 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法 | 现行 | 2005-10-12 | 2006-04-01 |
| GB/T 4955-2005 | 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法 | 现行 | 2005-10-12 | 2006-04-01 |
| GB/T 8014.3-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第3部分:分光束显微镜法 | 现行 | 2005-07-04 | 2005-12-01 |
| GB/T 8014.2-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第2部分:质量损失法 | 现行 | 2005-07-04 | 2005-12-01 |
| GB/T 6463-2005 | 金属和其它无机覆盖层厚度测量方法评述 | 现行 | 2005-06-23 | 2005-12-01 |
| GB/T 8014.1-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第1部分:测量原则 | 现行 | 2005-07-04 | 2005-12-01 |
| GB/T 11378-2005 | 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 轮廓仪法 | 废止 | 2005-06-23 | 2005-12-01 |
| GB/T 6462-2005 | 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法 | 废止 | 2005-06-23 | 2005-12-01 |
| GB/T 6672-2001 | 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法 | 现行 | 2001-10-24 | 2002-05-01 |
| GB/T 12334-2001 | 金属和其他非有机覆盖层 关于厚度测量的定义和一般规则 | 现行 | 2001-12-17 | 2002-06-01 |
| GB/T 17598-1998 | 土工布 多层产品中单层厚度的测定 | 现行 | 1998-11-26 | 1999-05-01 |
| GB/T 3820-1997 | 纺织品和纺织制品厚度的测定 | 现行 | 1997-10-09 | 1998-05-01 |
| GB/T 25276-2010 | 液晶显示器（LCD）用三醋酸纤维素酯（TAC）膜 厚度测定方法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 24218.2-2009 | 纺织品 非织造布试验方法 第2部分：厚度的测定 | 现行 | 2009-06-19 | 2010-02-01 |