硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay

GB/T 1553-2009推荐性国家标准

废止

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更新日期:2026-08-08

标准状态

发布日期

2009-10-30

实施日期

2010-06-01

基础信息

标准分类

中国标准分类号

H80

国际标准分类号

29.045

标准层级

国家标准

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