| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 14264-2024 | 半导体材料术语 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 30856-2025 | LED外延芯片用砷化镓衬底 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 37053-2018 | 氮化镓外延片及衬底片通用规范 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 41325-2022 | 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 29055-2019 | 太阳能电池用多晶硅片 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 12963-2022 | 电子级多晶硅 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
| GB/T 29508-2013 | 300mm 硅单晶切割片和磨削片 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 32573-2016 | 硅粉 总碳含量的测定 感应炉内燃烧后红外吸收法 | 现行 | 2016-02-24 | 2016-11-01 |
| GB/T 29850-2013 | 光伏电池用硅材料补偿度测量方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 4061-2009 | 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 29054-2019 | 太阳能电池用铸造多晶硅块 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 35307-2023 | 流化床法颗粒硅 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 30656-2023 | 碳化硅单晶抛光片 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| GB/T 32651-2016 | 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法 | 现行 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| GB/T 31475-2015 | 电子装联高质量内部互连用焊锡膏 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 29852-2013 | 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 35310-2017 | 200mm硅外延片 | 现行 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| GB/T 35305-2026 | 太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 29506-2013 | 300mm 硅单晶抛光片 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 30858-2025 | 蓝宝石单晶衬底抛光片 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |