| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 8756-2018 | 锗晶体缺陷图谱 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 30652-2023 | 硅外延用三氯氢硅 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 29505-2013 | 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 40561-2021 | 光伏硅材料 氧含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法 | 现行 | 2021-10-11 | 2022-05-01 |
| GB/T 31476-2015 | 电子装联高质量内部互连用焊料 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 20230-2022 | 磷化铟单晶 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 34479-2017 | 硅片字母数字标志规范 | 现行 | 2017-10-14 | 2018-07-01 |
| GB/T 16596-2019 | 确定晶片坐标系规范 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| GB/T 43662-2024 | 蓝宝石图形化衬底片 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 4058-2009 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 6617-2009 | 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 29504-2013 | 300mm 硅单晶 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 12965-2018 | 硅单晶切割片和研磨片 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 26066-2010 | 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 43885-2024 | 碳化硅外延片 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| DB65/T 3486-2013 | 太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法 | 废止 | 2013-10-20 | 2013-12-01 |
| GB/T 11093-2007 | 液封直拉法砷化镓单晶及切割片 | 现行 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 29849-2013 | 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 11072-2009 | 锑化铟多晶、单晶及切割片 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 37051-2018 | 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-04-01 |