硅抛光片表面颗粒测试方法

Test method for particles on polished silicon wafer surfaces

GB/T 19921-2018推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-03-16
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GB/T 19921-2018 相似标准 第2页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 11490-2015低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法现行2015-04-302015-10-01
GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法废止2014-12-312015-09-01
GB/T 12964-2018硅单晶抛光片现行2018-09-172019-06-01
GB/T 35305-2017太阳能电池用砷化镓单晶抛光片废止2017-12-292018-07-01
GB/T 30858-2014蓝宝石单晶衬底抛光片废止2014-07-242015-04-01
GB/T 47097-2026氮化铝单晶抛光片即将实施2026-01-282026-08-01
GB/T 41325-2022集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片现行2022-03-092022-10-01
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GB/T 35305-2026太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片即将实施2026-01-282026-08-01
GB/T 29506-2013300mm 硅单晶抛光片现行2013-05-092014-02-01
GB/T 30858-2025蓝宝石单晶衬底抛光片即将实施2025-10-312026-05-01
T/NXCL 29-2024300 mm低氧含量直拉硅单晶抛光片现行2024-02-062024-02-06
T/NXCL 017-2022300 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片现行2022-12-022022-12-02
T/NXCL 016-2022200 mm重掺锑直拉硅单晶抛光片现行2022-12-022022-12-02
T/ZZB 2332-2021发光二极管用蓝宝石衬底抛光片现行2021-08-302021-09-30
T/ZZB 0648-2018200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片现行2018-10-192018-11-01
SJ/T 11505-2015蓝宝石单晶抛光片规范现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 11502-2015碳化硅单晶抛光片规范废止2015-04-302015-10-01