Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 36969-2018 | 纳米技术原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2018-12-28 |
| T/GDASE 0008-2020 | 石墨烯薄膜杨氏模量的测定原子力显微镜法 | 现行 | 2020-06-01 | 2020-06-01 |
| T/GDASE 0008-2020 | 石墨烯薄膜杨氏模量的测定原子力显微镜法 | 现行 | 2020-06-01 | 2020-06-01 |
| GB/T 22462-2008 | 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法 | 现行 | 2008-10-30 | 2009-06-01 |
| GB/T 40066-2021 | 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 33714-2017 | 纳米技术纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术 | 现行 | 2017-05-12 | 2017-12-01 |
| GB/T 46972-2026 | 纳米技术 外泌体形貌和尺寸测量 原子力显微术 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 28872-2012 | 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 27760-2011 | 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 | 现行 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| GB/T 45770-2025 | 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 31227-2014 | 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法 | 现行 | 2014-09-30 | 2015-04-15 |
| GB/T 43883-2024 | 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 43251-2023 | 纳米技术 小尺寸纳米结构薄膜拉伸性能测定方法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 43748-2024 | 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| T/GDASE 0012-2020 | 石墨烯薄膜层数的测定 激光显微共焦拉曼光谱法 | 现行 | 2020-06-01 | 2020-06-01 |
| T/GDASE 0012-2020 | 石墨烯薄膜层数的测定 激光显微共焦拉曼光谱法 | 现行 | 2020-06-01 | 2020-06-01 |
| YB/T 6509-2026 | 石墨烯薄膜覆盖度测定 扫描电子显微镜法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 30543-2014 | 纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-11-01 |