Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB44/T 1215-2013 | 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征单壁碳纳米管的特性 | 废止 | 2013-12-06 | 2014-03-06 |
| GB/T 44210-2024 | 纳米技术纳米银线透明导电薄膜氙灯加速老化试验方法 | 现行 | 2024-07-24 | 2025-02-01 |
| GB/T 43682-2024 | 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| DB32/T 3459-2018 | 石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法 | 现行 | 2018-11-09 | 2018-11-30 |
| GB/T 47631-2026 | 光学功能薄膜 表观质量的扫描显微镜测试方法 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| GB/T 30447-2013 | 纳米薄膜接触角测量方法 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-10-01 |
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 | 现行 | 2022-10-23 | 2022-11-23 |
| GB/T 25898-2010 | 仪器化纳米压入试验方法薄膜的压入硬度和弹性模量 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-05-01 |
| GB/T 33826-2017 | 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| GB/T 25898-2010 | 仪器化纳米压入试验方法薄膜的压入硬度和弹性模量（外文版EN） | 现行 | 2020-12-14 | |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 32189-2015 | 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 40128-2021 | 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 32262-2015 | 用于原子力显微镜检测的脱氧核糖核酸样品的制备方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| T/SPSTS 031-2023 | 石墨烯材料表面电势测量 原子力显微术 | 现行 | 2023-11-25 | 2023-11-25 |
| T/CSTM 00003-2019 | 二维材料厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2019-01-03 | 2019-02-01 |
| EJ/T 20176-2018 | 金刚石刀具刃口锋利度的原子力显微镜测量方法 | 现行 | 2018-01-18 | 2018-05-01 |
| T/CSTM 00003-2019 | 二维材料厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2019-01-03 | 2019-02-01 |