| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 7265.1-1987 | 固体电介质微波复介电常数的测试方法 微扰法 | 现行 | 1987-02-13 | 1987-11-01 |
| GB/T 46583-2025 | 微波介质陶瓷介电性能测试方法 开腔法、闭腔法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CASAS 029-2023 | Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-07-01 |
| T/CSTM 00989-2023 | 微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-07-21 |
| YD/T 2529-2013 | SDH数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-06-01 |
| YD/T 2742-2014 | 分组数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2014-10-14 | 2014-10-14 |
| GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 | 废止 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| YD/T 2528-2013 | 扩频数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-06-01 |
| YD/T 508-2025 | 微波通信系统抛物面天线技术要求和测试方法 | 现行 | 2025-12-17 | 2026-04-01 |
| T/CECA-G 0276-2023 | 家用和类似用途微波炉能效测试及表征方法 | 现行 | 2023-12-22 | 2023-12-25 |
| YD/T 2742-2026 | 分组数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 26068-2018 | 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-11-01 |
| T/CSTM 00921-2023 | 微波组件用焊锡膏性能测试及应用 | 现行 | 2023-02-28 | 2023-05-28 |
| T/CSTM 00751-2022 | 微波波段固态电介质材料介电性能测试 闭腔法 | 现行 | 2022-04-19 | 2022-07-19 |
| GB/T 22586-2008 | 高温超导薄膜微波表面电阻测试 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-05-01 |
| GB/T 6798-1996 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 | 现行 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| YD/T 3037.1-2023 | 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-04-01 |
| GB/T 14028-2018 | 半导体集成电路 模拟开关测试方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |