半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法

Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)

GB/T 24468-2025推荐性国家标准

即将实施

上传时间:2026-03-19
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GB/T 24468-2025 相似标准 第6页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
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T/ZMDS 10007-2019医用电子直线加速器可靠性试验与评价方法 第3部分:电气设备可靠性强化试验方法现行2019-12-302019-12-30
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T/CIS 03002.1-2020科学仪器设备电气系统可靠性 强化试验方法现行2020-03-012020-05-01
T/CIS 03001.1-2020科学仪器设备可靠性 整机平均故障间隔时间验证方法现行2020-03-012020-05-01
T/CECA 38-2020电子设备用固定电感器可靠性试验规范现行2020-08-152020-08-20
T/CSBME 025-2021医疗设备可靠性管理规范现行2021-01-162021-03-01
T/CSBME 024-2021超声诊断设备可靠性试验方法现行2021-01-162021-03-01
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