Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CPI 64001-2023 | 石油化工设备 以可靠性为中心的维修（RCM） 应用指南 | 现行 | 2023-12-15 | 2024-02-01 |
| DL/T 1815-2026 | 储能电站设备可靠性评价规程 | 即将实施 | 2026-06-26 | 2026-12-26 |
| SN/T 3480.4-2016 | 进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分：半导体封装测试设备 | 现行 | 2016-08-23 | 2017-03-01 |
| GB/T 15872-2013 | 半导体设备电源接口 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| GB/T 5226.33-2017 | 机械电气安全 机械电气设备 第33部分：半导体设备技术条件 | 现行 | 2017-10-14 | 2018-05-01 |
| GB/T 14048.12-2016 | 低压开关设备和控制设备 第4-3部分：接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器 | 废止 | 2016-12-13 | 2017-07-01 |
| GB/T 19629-2005 | 医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计 | 现行 | 2005-01-17 | 2005-06-01 |
| GB/T 29845-2013 | 半导体制造设备的最终装配、包装、运输、拆包及安放导则 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| JB/T 4219-1999 | 电力半导体器件测试设备型号命名方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8453-1996 | 半导体变流器 第五部分 不间断电源设备用开关（UPS开关) | 现行 | 1996-09-03 | 1997-01-01 |
| YY 0845-2011 | 激光治疗设备半导体激光光动力治疗机 | 现行 | 2011-12-31 | 2013-06-01 |
| YY/T 1751-2020 | 激光治疗设备半导体激光鼻腔内照射治疗仪 | 现行 | 2020-09-27 | 2021-09-01 |
| GB/T 14048.6-2016 | 低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 交流电动机用半导体控制器和起动器(含软起动器) | 废止 | 2016-08-29 | 2017-03-01 |
| GB/T 13539.4-2016 | 低压熔断器 第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 | 现行 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| SJ/T 11762-2020 | 半导体设备制造信息标识要求 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11761-2020 | 200mm及以下晶圆用半导体设备装载端口规范 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11763-2020 | 半导体制造设备人机界面规范 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11820-2022 | 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |