Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22193-2008 | 船舶电气设备设备半导体变流器 | 现行 | 2008-07-16 | 2009-04-01 |
| GB/T 14048.6-2025 | 低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 电动机用半导体控制器、起动器和软起动器 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 14048.12-2025 | 低压开关设备和控制设备 第4-3部分：接触器和电动机起动器 非电动机负载用半导体控制器和半导体接触器 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 19629-2025 | 医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和（或）半导体探测器剂量计 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2027-05-01 |
| T/ZACA 041-2022 | 混合信号半导体器件测试设备 | 现行 | 2022-06-28 | 2022-07-01 |
| T/ZJATA 0017-2023 | 制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备 | 现行 | 2023-06-20 | 2023-07-20 |
| SJ/T 12024-2025 | 半导体设备 集成电路制造 用离子注入机测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12023-2025 | 半导体设备 集成电路制造用化学气相淀积设备(CVD)测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| NB/T 20724-2024 | 核电厂设备可用率分级准则 | 现行 | 2024-09-24 | 2025-03-24 |
| YY/T 9706.106-2021 | 医用电气设备 第1-6部分：基本安全和基本性能的通用要求 并列标准：可用性 | 现行 | 2021-03-09 | 2023-05-01 |
| YY/T 1992-2025 | 采用机器人技术的辅助手术设备 总结性可用性测试方法 | 现行 | 2025-10-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 24986.4-2017 | 家用和类似用途电器可靠性评价方法 第4部分: 房间空气调节器的特殊要求 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| NB/T 20642-2023 | 核电厂人员可靠性分析导则 | 现行 | 2023-05-26 | 2023-11-26 |
| GB/T 29832.2-2013 | 系统与软件可靠性 第2部分：度量方法 | 废止 | 2013-11-12 | 2014-02-01 |
| GB/T 30093-2013 | 自动化控制系统可靠性技术评审程序 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-01 |
| GB/T 15510-2008 | 控制用电磁继电器可靠性试验通则 | 现行 | 2008-06-18 | 2009-03-01 |
| HB 8578-2020 | 民用飞机运行可靠性数据采集及管理要求 | 现行 | 2020-09-14 | 2021-01-01 |
| GB/T 41392-2022 | 数字化车间可靠性通用要求 | 现行 | 2022-04-15 | 2022-11-01 |