Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10047-1991 | 半导体集成电路CT54LC195/CT74LS195型4位移位寄存器（并行存取） | 现行 | 1991-07-01 | 相似 |
| SJ/T 11706-2018 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | 现行 | 2018-04-01 | 相似 |
| SJ/T 10084-1991 | 半导体集成电路CT54H20/CT74H20型双4输入S非门 | 现行 | 1991-07-01 | 相似 |
| SJ/T 10044-1991 | 半导体集成电路TL54LS283/CT74LS283型4位二进制超前进位全加器 | 现行 | 1991-07-01 | 相似 |
| SJ/T 10080-1991 | 半导体集成电路CT5442/CT7442型4线--10线译码器(BCD输入) | 现行 | 1991-07-01 | 相似 |
| SJ/T 10070-1991 | 半导体集成电路CH2021型4位二进制同步加/减计数器 (双时钟)详细规范 | 现行 | 1991-07-01 | 相似 |
| SJ/T 10427.2-1993 | 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理 | 现行 | 1994-06-01 | 相似 |
| SJ/T 10264-1991 | 半导体集成电路CD3161CS双前置放大器详细规范 | 现行 | 1992-01-01 | 相似 |
| SJ/T 11702-2018 | 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 | 现行 | 2018-04-01 | 相似 |
| GB/T 42839-2023 | 半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器 | 现行 | 2023-12-01 | 相似 |
| GB/T 14029-1992 | 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 相似 |
| GB/T 4377-2018 | 半导体集成电路 电压调整器测试方法 | 现行 | 2018-08-01 | 相似 |
| GB/T 35006-2018 | 半导体集成电路 电平转换器测试方法 | 现行 | 2018-08-01 | 相似 |
| GB/T 44924-2024 | 半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法 | 现行 | 2025-04-01 | 相似 |
| GB/T 36474-2018 | 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 | 现行 | 2019-01-01 | 相似 |
| GB/T 14032-1992 | 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 相似 |
| GB/T 42837-2023 | 微波半导体集成电路 放大器 | 现行 | 2023-12-01 | 相似 |
| GB/T 7092-2021 | 半导体集成电路外形尺寸 | 现行 | 2021-10-01 | 相似 |