碳化硅单晶位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide

GB/T 41765-2022推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-03-14
格式:pdf

GB/T 41765-2022 相似标准 第14页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 17170-2015半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法现行2015-12-102016-07-01
GB/T 32188-2015氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2015-12-102016-11-01
GB/T 46227-2025半导体单晶材料透过率测试方法即将实施2025-08-292026-03-01
T/ZSA 231-2024氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2024-05-152024-05-16
T/IAWBS 015-2021氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2021-09-152021-09-22
JC/T 2513-2019磷酸钛氧钾单晶元件抗灰迹性能测试方法现行2019-05-022019-11-01
SJ/T 11494-2015硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法现行2015-04-302015-10-01
GB/T 22453-2008硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法废止2008-10-072009-04-01
GB/T 24581-2009低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法废止2009-10-302010-06-01
GB/T 11297.7-1989锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法现行1989-03-311990-01-01
DL/T 2763-2024火电厂烟气二氧化碳化学吸收溶液性能测试技术规范现行2024-05-242024-11-24
GB/T 10417-2008碳化钨钢结硬质合金技术条件及其力学性能的测试方法废止2008-08-112009-02-01
GB/T 36655-2018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法现行2018-09-172019-01-01
GB/T 11446.6-2013电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法现行2013-12-312014-08-15
T/FSI 049-2020气相二氧化硅表面硅羟基含量测试方法现行2020-04-302020-05-30
T/FSI 049-2020气相二氧化硅表面硅羟基含量测试方法现行2020-04-302020-05-30
GB/T 35306-2023硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法现行2023-08-062024-03-01
GB/T 12964-2018硅单晶抛光片现行2018-09-172019-06-01