Artificial intelligence—Technical specification for deep learning framework adaption to multi-hardware platform
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 45079-2024 | 人工智能深度学习框架多硬件平台适配技术规范 | 现行 | 2024-11-28 | 找相似 |
| GB/T 48073-2026 | 人工智能深度学习框架功能要求 | 即将实施 | 2026-12-01 | 找相似 |
| GB/T 45225-2025 | 人工智能深度学习算法评估 | 现行 | 2025-01-24 | 找相似 |
| GB/T 46345-2025 | 人工智能深度学习编译器接口 | 现行 | 2025-10-05 | 找相似 |
| T/QGCML 3070-2024 | 人工智能深度学习模拟系统 | 现行 | 2024-02-15 | —— |
| T/CESA 1121-2020 | 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1120-2020 | 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1119-2020 | 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1026-2018 | 人工智能深度学习算法评估规范 | 现行 | 2018-07-01 | —— |
| T/CESA 1120-2020 | 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1121-2020 | 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1119-2020 | 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1026-2018 | 人工智能深度学习算法评估规范 | 现行 | 2018-07-01 | —— |
| SJ/T 12037-2025 | 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| SJ/T 12036-2025 | 人工智能芯片 云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| SJ/T 12035-2025 | 人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| SJ/T 12034-2025 | 人工智能芯片 边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| T/CESA 1037-2019 | 信息技术 人工智能 面向机器学习的系统框架和功能要求 | 现行 | 2019-04-01 | —— |