| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11490-2015 | 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11503-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11504-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| HG/T 4150-2019 | 偏光片用三醋酸纤维素酯（TAC）薄膜 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-07-01 |
| DZ/T 0275.3-2015 | 岩矿鉴定技术规范 第3部分：矿石光片制样 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-04-01 |
| DZ/T 0275.5-2015 | 岩矿鉴定技术规范 第5部分：矿石光片鉴定 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-04-01 |
| JJF 2046-2023 | 汽车检测设备用标准中性滤光片校准规范 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-12-30 |
| GB/T 31351-2014 | 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法 | 废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| JB/T 9334-1999 | 显微镜光谱滤光片 基本规格 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| HG/T 4185-2011 | 偏光片用聚乙烯醇（PVA）薄膜 | 废止 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| JB/T 5590-1991 | 光谱仪器用滤光片 | 废止 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| SJ/T 11502-2015 | 碳化硅单晶抛光片规范 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| HG/T 4150-2010 | 偏光片用三醋酸纤维素酯（TAC）薄膜 | 废止 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| SY/T 6414-1999 | 全岩光片显微组分测定方法 | 废止 | 1999-05-17 | 1999-12-01 |
| GB/T 47902-2026 | 金刚石单晶抛光片 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 12964-2003 | 硅单晶抛光片 | 废止 | 2003-06-16 | 2004-01-01 |
| GB/T 19921-2005 | 硅抛光片表面颗粒测试方法 | 废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 26601-2011 | 显微镜 光谱滤光片 | 废止 | 2011-06-16 | 2011-11-01 |