| GB/T 40109-2021 | 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 32495-2016 | 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法 | 现行 | 2017-01-01 | 找相似 |
| T/CSO 1-2021 | 电导率温度深度剖面仪海上比测方法 | 现行 | 2021-07-01 | —— |
| T/ZOIA 30001-2022 | MEMS高深宽比结构深度测量方法 光谱反射法 | 现行 | 2022-12-29 | —— |
| T/GRM 092-2023 | 煤矿矿井水深度回用系统反渗透阻垢剂性能评价试验方法 | 现行 | 2024-01-01 | —— |
| T/CESA 1121-2020 | 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1120-2020 | 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1119-2020 | 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CMA HG021-2020 | 轮胎试验路面构造深度测量方法 手工铺砂法 | 现行 | 2020-03-01 | —— |
| SY/T 5784-1993 | 射孔层位深度的校正和计算方法 | 废止 | 1994-03-01 | 找相似 |
| 03G102 | 钢结构设计制图深度和表示方法 [图集] | 现行 | 2003-12-01 | 找相似 |
| GB/T 20175-2006 | 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 | 废止 | 2006-11-01 | 找相似 |
| T/CESA 1120-2020 | 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1121-2020 | 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CESA 1119-2020 | 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-11-10 | —— |
| T/CMA HG021-2020 | 轮胎试验路面构造深度测量方法 —手工铺砂法 | 现行 | 2020-03-01 | —— |
| GB/T 34326-2026 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| SJ/T 12037-2025 | 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |