Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 28044-2011 | 纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则 | 现行 | 2011-10-31 | 2012-02-01 |
| T/CSTM 00999-2023 | 玉米褪绿斑驳病毒 形态学检测 透射电子显微镜法 | 现行 | 2023-12-15 | 2024-03-15 |
| T/CSTM 00166.3-2020 | 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |
| T/CSTM 00162-2020 | 透射电子显微镜校准方法 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |
| GB/T 28044-2011 | 纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则（外文版EN） | 现行 | 2020-12-14 | |
| JB/T 5584-1991 | 透射电子显微镜放大率测试方法 | 废止 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| JB/T 5383-1991 | 透射电子显微镜 技术条件 | 废止 | 1991-07-10 | 1992-07-01 |
| JB/T 5586-1991 | 透射电子显微镜分类和基本参数 | 废止 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| JB/T 5585-1991 | 透射电子显微镜分辩力测试方法 | 废止 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| DB31/T 315-2004 | 透射电子显微镜放大倍率校准方法 | 废止 | 2004-05-18 | 2004-08-01 |
| T/CSTM 00162-2020 | 透射电子显微镜校准方法 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |
| T/CSTM 00166.3-2020 | 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |
| GB/T 34172-2017 | 微束分析电子背散射衍射 金属及合金的相分析方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-08-01 |
| GB/T 17365-2025 | 微束分析 金属与合金电子探针定量分析试样的制备方法 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 30703-2014 | 微束分析电子背散射衍射取向分析方法导则 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 41076-2021 | 微束分析电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 38532-2020 | 微束分析电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定 | 现行 | 2020-03-06 | 2021-02-01 |
| GB/T 15246-2022 | 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-02-01 |