Electrostatics—Part 3-2:Methods for simulation of electrostatic effects—Machine model(MM)electrostatic discharge test waveform
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43967-2024 | 空间环境 宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-04-25 |
| GB/T 33210-2025 | 无损检测 基于逆磁致伸缩效应的残余应力检测方法 | 现行 | 2025-08-29 | 2025-08-29 |
| GB/T 34168-2017 | 金、银纳米颗粒材料生物效应的透射电子显微镜检测方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-08-01 |
| DB13/T 6033-2024 | 半导体器件低浓度氢效应试验方法 | 现行 | 2024-10-28 | 2024-11-28 |
| GB/T 34059-2017 | 纳米技术 纳米生物效应代谢组学方法 核磁共振波谱法 | 现行 | 2017-07-31 | 2018-02-01 |
| GB/T 46217-2025 | 聚合物基压电复合材料电离辐射效应试验方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 28044-2011 | 纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则 | 现行 | 2011-10-31 | 2012-02-01 |
| T/CNS 82-2022 | 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法 | 现行 | 2022-12-16 | 2023-04-01 |
| T/SZAA 001-2024 | 车身域控制器场效应管负载能力试验方法 | 现行 | 2024-11-14 | 2024-11-30 |
| T/CASAS 016-2022 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法 | 现行 | 2022-07-18 | 2022-07-18 |
| T/CASAS 015-2022 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）功率循环试验方法 | 现行 | 2022-07-18 | 2022-07-18 |
| T/GDCKCJH 024-2020 | 有源单模光纤激光暗化效应测试方法 | 现行 | 2020-08-21 | 2020-10-01 |
| GB/T 28044-2011 | 纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则（外文版EN） | 现行 | 2020-12-14 | |
| GB/T 32006-2015 | 金纳米棒光热效应的评价方法（外文版EN） | 现行 | 2022-12-28 | |
| GB/T 34059-2017 | 纳米技术 纳米生物效应代谢组学方法 核磁共振波谱法（外文版EN） | 现行 | 2022-12-28 | |
| SJ/T 11824-2022 | 金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET)等效电容和电压变化率测试方法 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| DB13/T 5695-2023 | GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法 | 废止 | 2023-05-06 | 2023-06-06 |
| GB/T 47824-2026 | 飞行器模型气动光学效应风洞试验方法 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |